Deux méthodes d’analyse d’extrême surface utilisées au CEMEF seront présentées : la spectrométrie de photoélectrons (XPS) et la spectrométrie d’ions secondaires en temps de vol (ToF-SIMS). Des exemples d’applications seront donnés, pour démontrer l’importance de la connaissance des surfaces de matériaux dans différents domaines de la physique. Nous nous appuierons sur des travaux menés au laboratoire sur des métaux, polymères, semi-conducteurs, céramiques, dans les domaines de l’oxydation, de la réactivité, de la mise en forme.